Ｘ線結晶構造解析（単結晶X線構造解析）とは 物理系薬学
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Ｘ線結晶構造解析では、結晶にX線を照射し、結晶中の分子の電子により散乱されたX線を検出する。
散乱X線が検出器上に結ぶ回折斑点の強度と回折波の位相から分子の電子密度の分布がわかり、
そこから原子の種類と配置、分子構造に関する情報が得られる。
電子密度の分布を得るのにフーリエ解析という手法が用いられる。
Ｘ線結晶構造解析は、電子密度の分布より分子構造を解析する方法であり、
絶対配置、分子間相互作用も解析できる。
Ｘ線結晶構造解析は、良い結晶が得られるならば低分子でも高分子でも適用可能であり、
未知の分子の立体構造の解明、既知の分子の分子間相互作用の解明などに用いられる。
ただし、Ｘ線結晶構造解析は十分なサイズの単結晶を得られないと適用できない。